Academic Journal

Reflectance of Silicon Photomultipliers at Vacuum Ultraviolet Wavelengths

Bibliographic Details
Title: Reflectance of Silicon Photomultipliers at Vacuum Ultraviolet Wavelengths
Authors: Lv, P., Cao, G.F., Wen, L.J., Kharusi, S.A., Anton, G., Arnquist, I.J., Badhrees, I., Barbeau, P.S., Beck, D., Belov, V., Bhatta, T., Breur, P.A., Brodsky, J.P., Brown, E., Brunner, T., Mamahit, S.B., Caden, E., Cao, L., Chambers, C., Chana, B., Charlebois, S.A., Chiu, M., Cleveland, B., Coon, M., Craycraft, A., Dalmasson, J., Daniels, T., Darroch, L., St. Croix, A.D., Mesrobian-Kabakian, A.D., Deslandes, K., DeVoe, R., Vacri, M.L.D., Dilling, J., Ding, Y.Y., Dolinski, M.J., Doria, L., Dragone, A., Echevers, J., Edaltafar, F., Elbeltagi, M., Fabris, L., Fairbank, D., Fairbank, W., Farine, J., Ferrara, S., Feyzbakhsh, S., Fucarino, A., Gallina, G., Gautam, P., Giacomini, G., Goeldi, D., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E.V., Heffner, M., Hoppe, E.W., Hobl, J., House, A., Hughes, M., Iverson, A., Jamil, A., Jewell, M.J., Jiang, X.S., Karelin, A., Kaufman, L.J., Koffas, T., Krucken, R., Kuchenkov, A., Kumar, K.S., Lan, Y., Larson, A., Leach, K.G., Lenardo, B.G., Leonard, D.S., Li, G., Li, S., Li, Z., Licciardi, C., MacLellan, R., Massacret, N., McElroy, T., Medina-Peregrina, M., Michel, T., Mong, B., Moore, D.C., Murray, K., Nakarmi, P., Natzke, C.R., Newby, R.J., Ning, Z., Njoya, O., Nolet, F., Nusair, O., Odgers, K., Odian, A., Oriunno, M., Orrell, J.L., Ortega, G.S., Ostrovskiy, I., Overman, C.T., Parent, S., Piepke, A., Pocar, A., Pratte, J.-., Radeka, V., Raguzin, E., Rescia, S., Retiere, F., Richman, M., Robinson, A., Rossignol, T., Rowson, P.C., Roy, N., Runge, J., Saldanha, R., Sangiorgio, S., Skarpaas, K., Soma, A.K., St-Hilaire, G., Stekhanov, V., Stiegler, T., Sun, X.L., Tarka, M., Todd, J., Totev, T.I., Tsang, R., Tsang, T., Vachon, F., Veeraraghavan, V., Viel, S., Visser, G., Vivo-Vilches, C., Vuilleumier, J., Wagenpfeil, M., Wager, T., Walent, M., Wang, Q., Watkins, J., Wei, W., Wichoski, U., Wu, S.X., Wu, W.H., Wu, X., Xia, Q., Yang, H., Yang, L., Zeldovich, O., Zhao, J., Zhou, Y., Ziegler, T.
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(12):2501-2510 Dec, 2020
ISSN: 0018949915581578
DOI: 10.1109/TNS.2020.3035172
Database: IEEE Xplore Digital Library